X射線熒光光譜分析要進行定量分析必須測量特征x射線的強度，找出濃度與強度的關系，然后進行定量分析。測量x射線強度時，原則上應當測量分析線下的積分強度，但在波長色散型X射線熒光光譜儀上，晶體一次只能使一種波長的x射線發生衍射而進入探測器。因此測量分析線峰下的積分強度很不方便，而且很費時間，然而位于zui大強度的2θ位置上的峰值強度可以代表譜線的積分強度，這樣測量就很方便。測量的方法有三種：1、定時計數法：在預定時間T內，記錄x射線的光子數N，強度為I=N/T。定時器和計數器同時...

雖然光波色散型（ED-XRF）X射線熒光光譜儀與能量色散型（ED-XRF）X射線熒光光譜儀同屬于X射線熒光分析儀，它產生信號的方法相同，zui后得到的波譜也極為相似，單由于采集數據的方式不同，WD-XRF（波譜）與WD-XRF(能譜)在原理和儀器結構上有所不同，功能也有區別。一、原理區別X射線熒光光譜法，是用X射線管發出的初級線束輻照樣品，激發各化學元素發出二次譜線（X-熒光）。波長色散型熒光光儀（WD-XRF）是用分光近體將熒光光束色散后，測定各種元素的特征X射線波長和強度...

X射線熒光光譜儀激發樣品的光源主要包括具有各種功率的X射線管、放射性核素源、質子和同步輻射光源。波長色散X射線熒光光譜儀所用的激發源是不同功率的X射線管，功率可達4~4.5kW，類型有側窗、端窗、透射靶和復合靶。能量色散X射線熒光光譜儀用的激發源有小功率的X射線管，功率從4~1600W，靶型有側窗和端窗。靶材主要有Rh、Cr、W、Au、Mo、Cu、Ag等，并廣泛使用二次靶?，F場和便攜式譜儀則主要用放射性核素源。激發元素產生特征X射線的機理是必須使原子內層電子軌道產生電子空位。...